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安立網分怎麽給測試板去嵌-Anritsu技術支持中心
安立（Anritsu）網絡分析儀（網分）的去嵌（De-embedding）功能，用於消除測試夾具、連接器或傳輸線對被測件（DUT）測量結果的影響。以下是茄子视频懂你更多APP安立技術支持中心整理的通用操作指南：
一、去嵌原理與適用場景
原理：通過數學算法（如TRL、SOLT校準）去除測試夾具的S參數，僅保留DUT的真實響應。
適用場景：
測試高頻器件（如PCB板載天線、濾波器）時，需消除微帶線、SMA接頭等引入的相位/幅值誤差。
批量測試中統一補償夾具差異，提高一致性。
二、操作步驟（以MS46122A/B係列為例）
1. 前期準備
校準件：準備SOLT（Short-Open-Load-Thru）或TRL（Thru-Reflect-Line）校準件。
測試夾具：確保夾具已安裝DUT，並連接至網分Port1和Port2。
2. 進入去嵌菜單
按下 [System] → [Calibration] → [De-embedding]。
選擇去嵌方法：
TRL：適用於非同軸環境（如PCB微帶線），需測量Thru、Reflect、Line標準件。
SOLT：傳統校準方法，需Short、Open、Load、Thru四件套。
3. 執行去嵌校準
測量標準件：
依次連接Thru、Reflect、Line（或SOLT四件套）至夾具，按 [Measure] 記錄每個標準件的S參數。
生成去嵌文件：
輸入標準件物理參數（如長度、介質常數），網分自動計算夾具的S參數模型。
應用去嵌：
返回主界麵，選擇 [De-embed] 加載生成的.s2p文件，確認後實時扣除夾具影響。
4. 驗證去嵌效果
測量已知DUT（如校準過的衰減器），對比去嵌前後的S參數（如S21插入損耗）。
理想情況下，去嵌後數據應與DUT標稱值一致（誤差<±0.1dB）。
三、關鍵注意事項
1.夾具一致性：
確保測試夾具與校準件機械結構完全一致，避免因接觸不良引入誤差。
2.頻率範圍：
去嵌模型僅在標準件測量頻段內有效，超出範圍可能導致數據失真。
3.多次去嵌：
複雜夾具可分段去嵌（如先補償SMA接頭，再補償微帶線）。
4.軟件輔助：
使用安立 “Network Master” 軟件可離線優化去嵌模型，支持多端口網絡分析。
四、故障排查
1.去嵌後數據異常：
檢查標準件連接是否牢固，重新測量Thru/Reflect。
確認去嵌文件路徑正確，未被其他數據覆蓋。
2.無法進入去嵌菜單：
確認固件版本是否支持去嵌功能（部分入門型號需升級至V2.0以上）。
五、技術支持
資源下載：http://www.goowind.com/cpsc.html
服務熱線：聯係18682985902（同微信）獲取技術支持。
